Built in self test for SRAM array by vhdl
تفاصيل المشروع
فحص مصفوفة من الرام وعمل اخطاء بها
باستخدام LFSR مع comparater وال MUX في حالتين اولا بدون fault والحالة الثانية بوجود fault لبيان الفرق لمصفوفة حجمها 8x4
صاحب المشروع
Fanar A.
| تاريخ التسجيل | |
| معدل التوظيف | |
| المشاريع المفتوحة | 0 |
| مشاريع قيد التنفيذ | 0 |
| التواصلات الجارية | 0 |
العروض المقدمة
Ismail H.
السلام عليكم، أنا مهندس متخصص في تصميم الأنظمة الرقمية باستخدام VHDL وFPGA، ولدي خبرة واسعة في تطوير وحدات Built-In Self-Test (BIST). بناء على متطلبات مشروعكم، ...
Mai S.
بناء على خبرتي في تصميم الأنظمة الرقمية باستخدام VHDL وFPGA، يمكنني تنفيذ مشروع Built-In Self Test (BIST) لفحص مصفوفة SRAM بحجم 8x4. سأستخدم LFSR (Linear Feedba...